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国际金属加工网 2018年08月21日

金秋九月,第20届中国国际光电博览会(CIOE 2018)将在深圳会展中心盛大举行,中图仪器携SuperView W1光学3D表面轮廓仪、ZT202-3D曲面玻璃快速检测仪、SJ6000激光干涉仪、SJ57系列轮廓测量仪等精密测量仪器亮相,向行业客户展示一系列先进的测量解决方案。

第20届中国国际光电博览会

展会时间:2018年9月5-8日

展会地点:深圳会展中心

展位号:9号馆9E16

SuperView W1光学3D表面轮廓仪专用于半导体、显示屏、光学加工、精密机械零部件、微纳材料等行业中精密元器件的表面粗糙度、几何轮廓等参数的测量,精度达到纳米级。

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ZT202-3D曲面玻璃快速检测仪专用于测量全透明、半透明、非透明材质,曲面屏、平面屏的厚度及外形轮廓尺寸,并实时将测量结果以图表的形式反馈给用户,用户对生产加工的精度了如指掌,可大幅优化工艺流程和提高良品率。

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SJ6000激光干涉仪可对各类通用机床和专用机床(如玻璃雕刻机、激光切割机和晶圆划片机等)的线性、角度、直线度、垂直度、平行度等几何精度快速高效测量。

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我公司测量仪器在光电行业应用非常广泛,以上仅对部分展品做了简单介绍,如需详细了解,敬请莅临我司展位,与我们深入交流探讨,我们在深圳会展中心9号馆9E16与您不见不散!

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(chotest)

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